Zhang Y., Hazelton D.W., Schmidt R.M., Nakasaki R., Knoll A.R., Abraimov D., Sundaram A., Brownsey P., Kasahara M., Fukushima T., Carota G.M., Cameron J.B., Schwab G., Hope L.V., Kuraseko H.
Xie Y., Selvamanickam V., Hope L., Hazelton D., Soloveichik S., Dackow J., Liebl B., Bucinell R., Brown A.
Ключевые слова: presentation, HTS, YBCO, coated conductors, mechanical properties, tensile tests, stress effects, measurement technique
Kim S., Xiong X., Xie Y., Selvamanickam V., Zdun K., Hope L., Chen Y., Rar A., Moumou Y., Repnaya S., Soloveichik S.
Li Y., Qiao Y., Reeves J., Lenseth K., Selvamanickam V., Lee H.-., Xie Y.Y., Carota G., Funk M., Zdun K., Xie J., Likes K., Jones M., Hope L., Hazelton D.W.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, substrate Ni, IBAD process, PLD process, MOCVD process, fabrication
Qiao Y., Reeves J., Lenseth K., Selvamanickam V., Zdun K., Xie J., Hope L., Yijie L.(yli@igc.com), Corcoran S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, PLD process, reel-to-reel process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.